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,帶白光幹涉複合型高精度3D測量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光幹涉複合型高精度3D測量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光幹涉複合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學係統獲取的3D數據進行表麵形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截麵形狀測量。
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